X RITE macchina utilizzata in vendita

Parte n.: EO2-XR-ULZW — vedi n.: 1 045042 Attrezzature / altre informazioni: Dati tecnici: Tecnologia spettrale: gamma spettrale: 380-730 nm Intervallo di misurazione fisico: 3,5 nm Risoluzione ottica: 10 nm Risoluzione spettrale: 380 nm ... 730 nm con intervallo di 10 nm Frequenza di misurazione in modalità scansione: 200 misurazioni al secondo. Misurazione della riflessione: riflessione spettrale (adimensionata) Misurazione delle emissioni: luminosità spettrale (Mw/nm/m2/sr), luminanza (cd/m2) Misurazione della luce ambientale: irraggiamento spettrale (mW/nm/m2), sonda di luce diffusa luminanza (lux) con correzione del coseno

usato X-Rite 528 Spectraldensitometer