Strumento avanzato per misurare l'altezza di passi sottili e spessi
dei film. Oltre a profilare la topografia superficiale e
l'ondulazione, il sistema DektakXT misura la rugosità su scala
nanometrica
L'ELENCO DEI LOTTI NON È DEFINITIVO, I LOTTI IMPORTANTI VERRANNO
AGGIUNTI IN SEGUITO, PER FAVORE CONTROLLA I LOTTI AGGIUNTI.
La vendita include solo ciò che appare nelle foto.
L'acquirente, acquistando l'attrezzatura, accetta che il dispositivo
debba essere utilizzato secondo gli standard e la legislazione in
vigore nel suo paese. Il venditore non sarà ritenuto responsabile in
alcun modo per un uso improprio che non rispetti le condizioni di
sicurezza e gli standard e la legislazione in vigore
Auction-ID:
A1-49883-255
