outil avancé de mesure de la hauteur des pas de film mince et épais.
Outre le profilage de la topographie et de l'ondulation des surfaces,
le système DektakXT mesure la rugosité à l'échelle
nanométrique
LA LISTE DES LOTS N EST PAS DEFINITIVE , DES LOTS IMPORTANTS SERONT
RAJOUTES ULTERIEUREMENT , MERCI DE CHECKER LES LOTS RAJOUTES .
La vente comprend uniquement ce qui apparait sur les photos.
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etre utilisé selon les normes et législations en vigueur de son pays
. Le vendeur ne sera tenu en aucun cas responsable d’une mauvaise
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Auction-ID: A1-49883-255
