Steinheil KONTUR 408-2/D optoelektroniczny system pomiaru konturu i
wału
Wysokoprecyzyjny optoelektroniczny system pomiaru konturów i wałów
Steinheil KONTUR 408-2/D z wysokiej jakości optyką Jenoptik
System jest wykorzystywany do bezstykowego, precyzyjnego i szybkiego
pomiaru elementów symetrycznych o symetrii obrotowej (np. wałów,
wałków rozrządu, części toczonych na zewnątrz)
Urządzenie skanuje obiekt pomiarowy bez kontaktu zgodnie z zasadą
obrazu cieniowego. Pomiary obrotowe są rejestrowane z maksymalnie
1440 punktami pomiarowymi na obwodzie każdego punktu pomiarowego.
Ocena i kontrola jakości są realizowane bezpośrednio za pomocą
zintegrowanego oprogramowania SPC (Statistical Process Control)
opartego na Windows NT z wyraźnymi paskami tolerancji i diagramami
System umieszczony jest w zamkniętej obudowie z profilem aluminiowym
z przezroczystą ochronną konstrukcją i chroniony przez
profesjonalne zasłony świetlne bezpieczeństwa
Przegląd systemu
Zasada działania: Skanuje obrabiane elementy bez kontaktu zgodnie z
zasadą obrazu cieniowego.
Główne zastosowanie: Szybkie i precyzyjne pomiary całych konturów
i wałów obrabianych w sektorze przemysłowym.
Jednostka miara (KONTUR 408):
Pionowy system pomiarowy z zintegrowanym oświetleniem LED IR i
technologią czujników
Zakres pomiarowy: średnice od 4 do 85 mm, długości obrabianych
elementów do 400 mm
Drive & Scales: bezszczotkowe serwomotory i precyzyjne wagi
Heidenhaina
Urządzenie umieszczone jest w solidnej ramie z profilu aluminiowego z
przezroczystymi ściankami ochronnymi i zasłonami świetlnymi Sick.
System sterowania i infrastruktura IT:
Solidna 19-calowa szafa sterująca (Rittal) mieści komputer procesowy
magistrali VME, natomiast osobna stacja robocza PC kontroluje ocenę i
wizualizację (historycznie zaprojektowana dla Windows NT).
Wszechstronne klasyczne interfejsy z tyłu (w tym sieć RJ-45, porty
szeregowe COM, równoległy port drukarki LPT2, interfejsy AUI oraz
połączenia koncentryczne BNC)
Dane techniczne:
Producent: Steinheil
Model: KONTUR 408
Średnica zakresu pomiarowego: od 4 mm do 85 mm
Długość zakresu pomiarowego: do 400 mm
Średnica rozdzielczości: < 0,5 μm
Długość rozdzielczości: 0,5 μm
Rozdzielczość obrotu: 0,018
Dokładność pomiaru (przy 20°C):D średnica: ± 2 μmDługość: ±
[5 + L [mm] / 100] μm
Częstotliwość próbkowania (skany): 2000 na sekundę / 5000 na
mm
Czas pomiaru: od 10 do 50 sekund (w zależności od liczby cech
testowych)
Systemy pomiarowe / skale: wysokiej jakości wagi Heidenhaina
(długość i obrót)
System napędowy: Bezszczotkowe serwosilniki DC (sterowane
wzmacniaczem Elmo NBA 10/200RH)
Komputer procesowy: komputer magistrali VME w szafie Rittal
Ocena/wizualizacja: stacja robocza PC (zaprojektowana dla Windows
NT)
Oświetlenie: system IR LED (żywotność ok. 50 000 godzin)
Stopień ochrony: IP 54
Temperatura robocza: +10 °C do +45 °C
Wymiary (Szerokość x Wysokość x Średnica): ok. 590 x 900 x 380
mm
Masa: ok. 100 kg (plus peryferia/szafa)
Pozycja montażu: Jednostka stołowa / struktura stołowa
"Wszystko z jednego źródła: Chętnie zaoferujemy odpowiednie
finansowanie bankowe dla Twojego projektu."
komplett-konzept.leasingo.de
Więcej produktów – nowych i używanych – można znaleźć w
naszym sklepie!
Koszty wysyłki międzynarodowej na żądanie!