X RITE machine à vendre

Part Nr. : EO2-XR-ULZW // S. Nr. : 1 045042 Équipement / autres informations: Données techniques: Technologie spectrale: Plage spectrale: 380-730 nm Intervalle de mesure physique: 3.5 nm Résolution optique : 10 nm Résolution spectrale : 380 nm ... 730 nm avec intervalle de 10 nm Fréquence de mesure en mode scan : 200 mesures / secondes. Mesure de la réflexion : réflexion spectrale (sans dimension) Mesure des émissions: radiance spectrale (MW/nm/m2/sr), luminance (cd/m2) Mesure de la lumière ambiante: Irradiance spectrale (mW/nm/m2), luminance (Lux) Tête de mesure pour lumière diffuse avec correction du cosinus

utilisé X-Rite 528 Spectraldensitometer