故障解析装置 THERMOFISHER OptiFIB Taipan G2+ DualBeam FIB-SEM System

電気部品 / 電気部品

生産者: THERMOFISHER

モデル:OptiFIB Taipan G2+ DualBeam FIB-SEM System

機械のタイプ: 故障解析装置

アイテム番号: 168524966

量: 1

日付: 26.02.2026

製造年: 2019

場所: Portland, OR

価格:


Seller-item-No.:8343257

製造元:サーモフィッシャー

モデル:OptiFIB タイパン G2+

製造年:2019年

機械の種類:デュアルビーム集光イオンビーム – 走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)

状態:使用済み。優れた作業と物理的状態、専門的な 検査済み

含まれるアイテム:

1. メインのデュアルビームFIB-SEMカラムおよびステージ

2. U6358834 新しいSSDを搭載したコントロールコンソールとコン ューター、完全に処理され、運用準備完了

3. 写真参照のDe ChemistryおよびDX化学ユニット

4. 基本的な技術文書の完全なセット

このユニットの利点:

プレミアムソース – インテル製造から発信
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モデル:OptiFIB タイパン G2+

製造年:2019年

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1. メインのデュアルビームFIB-SEMカラムおよびステージ

2. U6358834 新しいSSDを搭載したコントロールコンソールとコン ューター、完全に処理され、運用準備完了

3. U6358834 写真参照のDe ChemistryおよびDX化学ユニット

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UCY Industrial GmbH

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Germany

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