Zeiss Axio Microscope optique métallographique

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Type de machine: Zeiss Axio Microscope optique métallographique

Numéro de l'article: 170347227

Quantité: 1

Date: 20.10.2026

Emplacement: 57000 Moselle

Prix de départ d'enchères: 2000 EUR

Enchères Prix: 2,000 EUR

Seller-item-No.:f70f037b-4b72-46dd-b6fd-68f32935d5b0

Aller aux enchères:

Fin de la vente aux enchères: 10.11.2026 - 15:16

Microscope métallographique motorisé ZEISS Axio Imager.M2m




  • Fabricant : ZEISS

  • Modèle : Axio Imager.M2m

  • Type : microscope optique droit métallographique / analyse des matériaux

  • Système motorisé pour applications de contrôle et d'analyse

  • Mise au point Z motorisée

  • Pas du moteur de mise au point Z : 25 nm

  • Tourelle porte-objectifs multiples

  • Tête d'observation binoculaire / trinoculaire

  • Sortie caméra pour acquisition numérique d'images

  • Observation possible en lumière réfléchie et, selon configuration, en lumière transmise

  • Modes de contraste selon équipement : champ clair, champ sombre, polarisation, DIC et C-DIC

  • Applications : métallographie, analyse de microstructures, contrôle de surfaces, inclusions, grains, fissures, revêtements et défauts de matériaux

  • Utilisation : contrôle qualité, laboratoire, recherche et analyse industrielle


Auction-ID: A1-51172-97
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Microscope métallographique motorisé ZEISS Axio Imager.M2m




  • Fabricant : ZEISS

  • Modèle : Axio Imager.M2m

  • Type : microscope optique droit métallographique / analyse des matériaux

  • Système motorisé pour applications de contrôle et d'analyse

  • Mise au point Z motorisée

  • Pas du moteur de mise au point Z : 25 nm

  • Tourelle porte-objectifs multiples

  • Tête d'observation binoculaire / trinoculaire

  • Sortie caméra pour acquisition numérique d'images

  • Observation possible en lumière réfléchie et, selon configuration, en lumière transmise

  • Modes de contraste selon équipement : champ clair, champ sombre, polarisation, DIC et C-DIC

  • Applications : métallographie, analyse de microstructures, contrôle de surfaces, inclusions, grains, fissures, revêtements et défauts de matériaux

  • Utilisation : contrôle qualité, laboratoire, recherche et analyse industrielle


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