X RITE używana maszyna na sprzedaż

Nr części: EO2-XR-ULZW — Patrz nr: 1 045042 Wyposażenie / inne informacje: Dane techniczne: Technologia spektralna: Zakres spektralna: 380-730 nm Fizyczny interwał pomiarowy: 3,5 nm Rozdzielczość optyczna: 10 nm Rozdzielczość spektralna: 380 nm ... 730 nm w odstępach 10 nm Częstotliwość pomiarowa w trybie skanowania: 200 pomiarów / sek. Pomiar odbicia: odbicie widmowe (bezwymiarowe) Pomiar emisji: blask spektralna (Mw/nm/m2/sr), luminancja (cd/m2) Pomiar światła otoczenia: natężenie promieniowania spektralnego (mW/nm/m2), rozproszona sonda świetlna (lux) z korekcją cosine

używany Spektraldensitometr X-Rite 528