
Keyence XM-C1000 測定技術
中古

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技術データ
· ID 170067788測定技術
- 税抜価格
- 4.800 € VB netto
- 状態
- 中古
- 製造年
- 2020
- 所在地
- 56648 Saffig
Identifikation
メーカーKeyence
型式XM-C1000
Technik
数量1
説明
Keyence XM-C1000 携帯型座標測定機/測定システム
製造元:キーエンス
モデル番号:XM-C1000
状態:中古、完全に機能している
販売中は、部品やアセンブリの正確な3D座標測定用の中古Keyence XM-C1000測定システムです。このシステムは、時間のかかるプログラミングなしで迅速かつ再現性の高い測定を可能にし、品質保証、入荷品検査、初品検査、生産監視に最適です。
XM-C1000は、そのシンプルな操作、高い測定精度、柔軟な適用オプションで印象的です。距離、直径、位置、角度、幾何学的公差の測定は効率的に実施され、記録されます。
技術的特徴
携帯型光学座標測定システム
精密な3D測定
直感的なユーザーインターフェース
高速テストシーケンス
自動測定プロトコル
生産と品質保証に理想的です
状態
使用中
完全に機能
良好な光学状態
通常の摩耗の兆候が見られます
検査および機能試験は手配によるもので可能です
提供範囲
キーエンス XM-C1000 測定システム
既存のアクセサリー(示されている)
文書
製造元:キーエンス
モデル番号:XM-C1000
状態:中古、完全に機能している
販売中は、部品やアセンブリの正確な3D座標測定用の中古Keyence XM-C1000測定システムです。このシステムは、時間のかかるプログラミングなしで迅速かつ再現性の高い測定を可能にし、品質保証、入荷品検査、初品検査、生産監視に最適です。
XM-C1000は、そのシンプルな操作、高い測定精度、柔軟な適用オプションで印象的です。距離、直径、位置、角度、幾何学的公差の測定は効率的に実施され、記録されます。
技術的特徴
携帯型光学座標測定システム
精密な3D測定
直感的なユーザーインターフェース
高速テストシーケンス
自動測定プロトコル
生産と品質保証に理想的です
状態
使用中
完全に機能
良好な光学状態
通常の摩耗の兆候が見られます
検査および機能試験は手配によるもので可能です
提供範囲
キーエンス XM-C1000 測定システム
既存のアクセサリー(示されている)
文書
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